Tadeusiewicz, Michał: шукати на сайті Z-Library

Analog Integrated Circuits and Signal Processing

Журнал:

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 647 KB

english, 2016

A method for the analysis of transistor circuits having multiple DC solutions

AEU - International Journal of Electronics and Communications

Журнал:

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 356 KB

english, 2006

A Very Fast Method for the DC Analysis of Diode–Transistor Circuits

Michał Tadeusiewicz, Andrzej Kuczyński

Журнал:

Tadeusiewicz, Michał, Hałgas, Stanisław, Kuczyński, Andrzej

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 525 KB

english, 2013

New Aspects of Fault Diagnosis of Nonlinear Analog Circuits

Журнал:

International Journal of Electronics and Telecommunications

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 495 KB

english, 2015

A method for multiple soft fault diagnosis of linear analog circuits

Michał Tadeusiewicz, Stanisław Hałgas, Marek Korzybski

Журнал:

Measurement

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 638 KB

english, 2018

Multiple catastrophic fault diagnosis of analog circuits considering the component tolerances

Журнал:

International Journal of Circuit Theory and Applications

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 363 KB

english, 2012

A Method for Finding Multiple DC Operating Points of Short Channel CMOS Circuits

Журнал:

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 383 KB

english, 2013

Global and local parametric diagnosis of analog short-channel CMOS circuits using homotopy-simplicial algorithm

International Journal of Circuit Theory and Applications

Журнал:

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 561 KB

english, 2014

A CONTRACTION ALGORITHM FOR FINDING ALL THE DC SOLUTIONS OF PIECEWISE-LINEAR CIRCUITS

TADEUSIEWICZ, MICHAL, GŁOWIENKA, KRZYSZTOF

Журнал:

Journal of Circuits System and Computers

Рік:

1994

Мова:

english

Файл:

PDF, 565 KB

english, 1994

Diagnosis of a soft short and local variations of parameters occurring simultaneously in analog CMOS circuits

Microelectronics Reliability

Журнал:

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 580 KB

english, 2017

On the solvability and computation of D.C. transistor networks

Michal Tadeusiewicz

Журнал:

International Journal of Circuit Theory and Applications

Рік:

1981

Мова:

english

Файл:

PDF, 811 KB

english, 1981

The solvability and monotonical properties of a certain class of D.C. non-linear networks

Michal Tadeusiewicz

Журнал:

International Journal of Circuit Theory and Applications

Рік:

1984

Мова:

english

Файл:

PDF, 637 KB

english, 1984

A method for finding bounds on the location of all the solutions of dc piecewise-linear circuits

Michal Tadeusiewicz

Журнал:

International Journal of Circuit Theory and Applications

Рік:

1990

Мова:

english

Файл:

PDF, 375 KB

english, 1990

A method for fast simulation of multiple catastrophic faults in analogue circuits

International Journal of Circuit Theory and Applications

Журнал:

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 227 KB

english, 2010

A Contraction Method for Locating All the DC Solutions of Circuits Containing Bipolar Transistors

Журнал:

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 296 KB

english, 2012

Multiple Soft Fault Diagnosis of Nonlinear Circuits Using the Continuation Method

Journal of Electronic Testing

Журнал:

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 204 KB

english, 2012

[IEEE 2008 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems - (ICECS 2008) - St. Julien's, Malta (2008.08.31-2008.09.3)] 2008 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems - An efficient method for simulation of multiple catastrophic faults

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 224 KB

english, 2008

[IEEE 2008 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems - (ICECS 2008) - St. Julien's, Malta (2008.08.31-2008.09.3)] 2008 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems - Tracing some temperature characteristics in diode-transistor circuits having multiple DC solutions

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 244 KB

english, 2008

[IEEE 2007 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD 2007) - Sevilla, Spain (2007.08.27-2007.08.30)] 2007 18th European Conference on Circuit Theory and Design - Finding all the DC solutions of transistor circuits with the thermal constraint

Tadeusiewicz, Michal, Sidyk, Piotr, Halgas, Stanislaw

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 255 KB

english, 2007

[IEEE 2007 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD 2007) - Sevilla, Spain (2007.08.27-2007.08.30)] 2007 18th European Conference on Circuit Theory and Design - A method for multiple fault diagnosis in dynamic analogue circuits

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 252 KB

english, 2007

[IEEE 2008 International Conference on Signals and Electronic Systems - Krakow, Poland (2008.09.14-2008.09.17)] 2008 International Conference on Signals and Electronic Systems - Multiple soft fault diagnosis of analogue electronic circuits

Halgas, Stanislaw, Tadeusiewicz, Michal

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 127 KB

english, 2008

[IEEE 2009 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD 2009) - Antalya, Turkey (2009.08.23-2009.08.27)] 2009 European Conference on Circuit Theory and Design - Improved algorithm for computing all the DC operating points of diode-transistor circuits

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 521 KB

english, 2009

[IEEE 2009 European Conference on Circuit Theory and Design (ECCTD 2009) - Antalya, Turkey (2009.08.23-2009.08.27)] 2009 European Conference on Circuit Theory and Design - Multiple catastrophic fault diagnosis of linear circuits considering the component tolerances

Tadeusiewicz, Michał, Kuczyński, Andrzej, Hałgas, Stanisław

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 493 KB

english, 2009

Catastrophic Fault Diagnosis of a Certain Class of Nonlinear Analog Circuits

Журнал:

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 2015

A New Approach to Multiple Soft Fault Diagnosis of Analog BJT and CMOS Circuits

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

Журнал:

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.81 MB

english, 2015

Analysis of transistor circuits having multiple DC solutions with the thermal constraint

Klinkenbusch, Ludger, Tadeusiewicz, Michał, Hałgas, Stanisław

Журнал:

COMPEL Int J for Computation and Maths in Electrical and Electronic Eng

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 136 KB

english, 2011

Spot Defect Diagnosis in Analog Nonlinear Circuits with Possible Multiple Operating Points

Tadeusiewicz, Michał, Kuczyński, Andrzej, Hałgas, Stanisław

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 520 KB

english, 2015

Multiple Soft Fault Diagnosis of Nonlinear DC Circuits Considering Component Tolerances

Metrology and Measurement Systems

Журнал:

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 720 KB

english, 2011

Transient analysis of nonlinear dynamic circuits using a numerical‐integration method

COMPEL Int J for Computation and Maths in Electrical and Electronic Eng

Журнал:

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 329 KB

english, 2005

Stability analysis of equilibrium states of a certain class of non‐linear dynamic circuits

Tadeusiewicz, Michal

Журнал:

COMPEL Int J for Computation and Maths in Electrical and Electronic Eng

Рік:

1998

Мова:

english

Файл:

PDF, 83 KB

english, 1998

D.C. ANALYSIS OF PIECEWISE LINEAR NETWORKS USING THE GAUSS‐SEIDEL METHOD

TADEUSIEWICZ, Michal

Журнал:

COMPEL Int J for Computation and Maths in Electrical and Electronic Eng

Рік:

1986

Мова:

english

Файл:

PDF, 351 KB

english, 1986

[IEEE 2016 MIXDES - 23rd International Conference "Mixed Design of Integrated Circuits and Systems" - Lodz, Poland (2016.6.23-2016.6.25)] 2016 MIXDES - 23rd International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems - Improvement of the search method for parametric fault diagnosis of analog integrated circuits

Halgas, Stanislaw, Tadeusiewicz, Michal

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 143 KB

english, 2016

A Systematic Method for Arranging Diagnostic Tests in Linear Analog DC and AC Circuits

Michał Tadeusiewicz,Stanisław Hałgas

Журнал:

Journal of Electronic Testing

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 509 KB

english, 2017

A Method for Local Parametric Fault Diagnosis of a Broad Class of Analog Integrated Circuits

IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement

Журнал:

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.98 MB

english, 2018

Diagnosis of Soft Spot Short Defects in Analog Circuits Considering the Thermal Behaviour of the Chip

Metrology and Measurement Systems

Журнал:

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.18 MB

english, 2016

Automation of the Acorn Scarification Process as a Contribution to Sustainable Forest Management. Case Study: Common Oak

Tadeusiewicz, Ryszard, Tylek, Paweł, Adamczyk, Florian, Kiełbasa, Paweł, Jabłoński, Mirosław, Pawlik, Piotr, Piłat, Adam, Walczyk, Józef, Szczepaniak, Jan, Juliszewski, Tadeusz, Szaroleta, Michał

Журнал:

Sustainability

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.79 MB

english, 2017

Modeling Analysis and Diagnosis of Analog Circuits in z -Domain

Tadeusiewicz, Michal, Ossowski, Marek

Журнал:

Journal of Circuits System and Computers

Рік:

2019

Файл:

PDF, 917 KB

2019

Soft fault diagnosis of linear circuits with the special attention paid to the circuits containing current conveyors

AEU - International Journal of Electronics and Communications

Журнал:

Рік:

2019

Файл:

PDF, 539 KB

2019

A method for fault diagnosis of nonlinear circuits